Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung [electronic resource] / von Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz.
Material type: TextSeries: Arbeiten zur Angewandten Statistik ; 33Publisher: Heidelberg : Physica-Verlag HD : Imprint: Physica, 1990Edition: 1st ed. 1990Description: IX, 231 S. online resourceContent type:- text
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- 9783662110270
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1. Einleitung und Überblick -- 2. Das Beobachtungs- und Kostenmodell -- 3. Die Bewertung von Prozesskurvenänderungen -- 4. Adaptive Stichprobensysteme zur Kontrolle der Prozeßkurve -- 5. Die Schätzung der Prozeßkurvenparameter -- 6. In der Praxis benutzte adaptive Stichprobensysteme -- 7. Die Erzeugung von Qualitätsgeschichten -- 8. Planung der Simulationsexperimente -- 9. Bestimmung der freien Parameter der Stichprobensysteme -- 10. Auswertung der Simulationsexperimente -- Literaturangaben.
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